功能測(cè)試Valid系列能夠滿足當(dāng)下甚至是未來(lái)的軍事和航空電子設(shè)備要求。硬件和軟件工具的靈活性使其能夠以多種配置提供測(cè)試解決方案,覆蓋三級(jí)測(cè)試需求(工廠級(jí)和倉(cāng)庫(kù)級(jí)),以及二級(jí)需求(中間級(jí))和一級(jí)需求(操作級(jí))。
例如,ValidATE系統(tǒng)已成功用于測(cè)試EFA 2000臺(tái)風(fēng)戰(zhàn)斗機(jī)和陣風(fēng)戰(zhàn)斗機(jī)等國(guó)防電子設(shè)備,并被Spherea測(cè)試和服務(wù)公司(前EADS Cassidian測(cè)試和服務(wù)公司)用作ATEC-MT測(cè)試儀的核心部件。
Valid系列是終極的集成化功能測(cè)試解決方案,能夠在工廠和現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中,滿足并超越模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)以及混合信號(hào)測(cè)試的要求,覆蓋板級(jí)(SRA/SRU)和設(shè)備級(jí)(LRA/LRU)測(cè)試。
Valid系列得益于Seica在測(cè)試復(fù)雜類(lèi)型的電路板和組件方面的卓越經(jīng)驗(yàn),采用先進(jìn)的DSP和 FPGA驅(qū)動(dòng)的數(shù)字技術(shù),是一整套經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的測(cè)試生成、調(diào)試和診斷解決方案。
Valid系列在成功替換過(guò)時(shí)的功能測(cè)試設(shè)備方面擁有經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的出色記錄,包括從GR179X到GR275X、從L200到L300、從S720到S790以及用于設(shè)備級(jí)測(cè)試和驗(yàn)證的定制化STE。
Valid系列提供最佳的測(cè)試導(dǎo)向激勵(lì)和測(cè)量專(zhuān)用硬件,并且容易進(jìn)行擴(kuò)展,以整合GPIB、LXI和VXI COTS解決方案。在強(qiáng)大的測(cè)試導(dǎo)向環(huán)境(VIVA)下運(yùn)行,該系統(tǒng)還可以完全由其他測(cè)試序列器(如N.I. TestStand或Agilent VeePRO)控制,并/或結(jié)合使用多種編程語(yǔ)言(如C++、VBS)以及編程環(huán)境(如LabWindows/CVI、LabView等)。